发布时间：2024/5/24 0:18:00
元器件半导体推拉力测试机是一款高精度、多功能的测试设备，用于测量半导体及其他材料在受到推力和拉力作用时的性能表现。该设备基于牛顿第三定律的工作原理，通过质量传感器和数据采集系统，能够精确测量并记录微小的推力和拉力数据，为产品研发和质量控制提供可靠支持。
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